A Note on Testability and Security of Encryption LSI - Collections | Kyushu University Library

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＜conference paper＞
A Note on Testability and Security of Encryption LSI

Creator	Creator Name 伊藤, 侑磨 Ito, Yuma イトウ, ユウマ Affiliation Affiliation Name 九州大学大学院システム情報科学府情報工学専攻 Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University
	Author PID K003161 Creator Name 吉村, 正義 Yoshimura, Masayoshi ヨシムラ, マサヨシ Affiliation Affiliation Name 九州大学大学院システム情報科学研究院情報工学部門
	Author PID K000217 Creator Name 安浦, 寛人 Yasuura, Hiroto ヤスウラ, ヒロト Affiliation Affiliation Name 九州大学大学院システム情報科学研究院情報工学部門 Faculty of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University
Language	Japanese
Date	2008-07-17
Source Title	FTC研究会
Source Title	SLRC Papers Database
Vol	59
Publication Type	Accepted Manuscript
Access Rights	open access
Related DOI	FTC研究会 \|\| 59
Related DOI	http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html
Related URI	FTC研究会 \|\| 59
Related URI	http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html
Relation	FTC研究会 \|\| 59
Relation	http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html
Abstract	スキャンパスを用いて暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定するスキャンパス攻撃の危険性が指摘されている．我々はスキャンパス攻撃を可能にするレジスタの可制御性あるいは可観測性を回路から取り除くことで，セキュリティを維持しつつ高いテスタビリティを得る防御法[5]を提案したが，これに対してセキュリティの定量的な評価は行えていない．そこで，本稿では暗号LSIのセキュリティ評価手法を提案する．提案セキュリティ...評価手法では，暗号回路を関数とそれらの入出力データをノードとし，関数とデータの入出力関係をエッジとするグラフとして定義し，このグラフ上で各関数の性質を利用して，秘密情報の候補数がどの程度絞り込まれるかを評価する．提案評価手法を用いて防御法[5]を評価し，特定の条件下を除いてセキュリティが低下しないことを示す．show more

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File	FileType	Size	Views	Description
yuma08_2	pdf	264 KB	324

Details

Record ID	13208
Peer-Reviewed	Unrefereed
Subject Terms	暗号LSI
	スキャンパス攻撃
	テスタビリティ
	セキュリティ評価
Type	会議発表論文
Created Date	2009.04.22
Modified Date	2020.11.27