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＜会議発表論文＞
暗号LSI におけるテスタビリティとセキュリティに関する一考察
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| 概要 | スキャンパスを用いて暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定するスキャンパス攻撃の危険性が指摘されている．我々はスキャンパス攻撃を可能にするレジスタの可制御性あるいは可観測性を回路から取り除くことで，セキュリティを維持しつつ高いテスタビリティを得る防御法[5]を提案したが，これに対してセキュリティの定量的な評価は行えていない．そこで，本稿では暗号LSIのセキュリティ評価手法を提案する．提案セキュリティ...評価手法では，暗号回路を関数とそれらの入出力データをノードとし，関数とデータの入出力関係をエッジとするグラフとして定義し，このグラフ上で各関数の性質を利用して，秘密情報の候補数がどの程度絞り込まれるかを評価する．提案評価手法を用いて防御法[5]を評価し，特定の条件下を除いてセキュリティが低下しないことを示す．続きを見る |
詳細
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| 登録日 | 2009.04.22 |
| 更新日 | 2020.11.27 |