<会議発表論文>
ゲート遅延分布を用いた性能テスト手法

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概要 量産段階におけるLSIの速度性能テストは,製造ゆらぎに起因する遅延のばらつきを測定するテストであるということができる.しかし性能テスト系列生成に用いられる計算用遅延モデルは,一般的にばらつきを明示的に考慮していない.本稿では製造時のばらつきを明示的に考慮した遅延モデルを用いたテスト生成手法を提案し,実験によりその優位性を示した.
The performance test of LSI is equa...ll to measureing variation of delay which occured by process variation. But, delay model for making performance test patterns are not consider the variation. So, this paper propose delay model which consider the variation. Then, experiance with simple sircuit resulted better than general method.続きを見る

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登録日 2009.04.22
更新日 2017.06.06