<会議発表論文>
Test architecture exploration on reconfigurable scan chain network
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概要 | In this paper, a test architecture exploration on reconfigurable scan chain network is discussed. Reconfigurable scan chain network enables system integrators to optimize their test designs without mo...dification and accelerates the reuse of cores. Our method can archive both short turn-around-time and test design optimization without redesigning legacy cores.続きを見る |
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sugihara03_2 | 53.1 KB | 131 |
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登録日 | 2009.04.22 |
更新日 | 2017.03.09 |