<会議発表論文>
Test architecture exploration on reconfigurable scan chain network

作成者
本文言語
出版者
発行日
収録物名
収録物名
開始ページ
終了ページ
出版タイプ
アクセス権
概要 In this paper, a test architecture exploration on reconfigurable scan chain network is discussed. Reconfigurable scan chain network enables system integrators to optimize their test designs without mo...dification and accelerates the reuse of cores. Our method can archive both short turn-around-time and test design optimization without redesigning legacy cores.続きを見る

本文情報を非表示

sugihara03_2 pdf 53.1 KB 55  

詳細

レコードID
査読有無
関連情報
タイプ
登録日 2009.04.22
更新日 2017.03.09