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＜紀要論文＞
低温電子線照射されたFe-Cu, Fe-Cu-C合金の陽電子消滅寿命測定
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| 概要 | 低温電子線照射 (E=28MeV, T_<irr>=77K)された鉄銅希薄合金 (0.02~0.22wt%) 及び鉄ー銅ー炭素3元合金中の照射欠陥の回復過程を陽電子消滅寿命測定法を用いて等時焼鈍実験を行いながら調べた. 鉄マトリクス中では銅原子と原子空孔が存在すると現在報告されている純鉄でのステージIII (~220K) よりも高温側ヘシフトし, さらに原子空孔はこれらの合金中では銅原子により原...子空孔集合体の形成に著しく影響を受けることが解った. さらに, この現象は, 銅原子の固溶濃度に依存性があることが明らかになった. また, 銅原子と炭素原子は同時に原子空孔の拡散を著しく抑制するため, 原子空孔集合体は形成されないことが明らかになった.続きを見る |
| 目次 | 1. 序論 2. 試料作製及び実験方法 3. 実験結果及び考察 3. 1 非照射の陽電子寿命 3. 2 電子線照射されたFe-Cu合金の陽電子寿命 3. 3 電子線照射されたFe-Cu-C合金の陽電子寿命 4. まとめ 5. 謝辞 参考文献 |
詳細
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| 登録日 | 2022.01.18 |
| 更新日 | 2023.07.31 |