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<図書>
材料評価のための分析電子顕微鏡法
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ

責任表示 進藤大輔, 及川哲夫共著
データ種別 図書
出版者 東京 : 共立出版
出版年 1999.5
本文言語 日本語
大きさ vi, 182p ; 26cm

所蔵情報


理系図2F 開架 003111999018985 549.97/Sh 62 1999

理系図2F 開架 003112000029333 549.97/Sh 62 1999

理系図2F 開架 003112001029854 549.97/Sh 62 1999

筑紫図 067112001007475 549.97/Sh 62 1999

筑紫図 067112006002467 549.97/Sh 62/A 1999

理 博物館 022112004002407 549.97/Sh 62 1999

書誌詳細

別書名 異なりアクセスタイトル:材料評価のための分析電子顕微鏡法
一般注記 参考文献: 各章末
著者標目 進藤, 大輔(1953-) <シンドウ, ダイスケ>
及川, 哲夫(1951-) <オイカワ, テツオ>
件 名 BSH:電子顕微鏡
BSH:材料試験
NDLSH:電子顕微鏡
NDLSH:材料試験
分 類 NDC8:549.97
NDC9:501.55
NDC9:549.97
NDLC:M217
書誌ID 1001349266
ISBN 4320085248
NCID BA41742572
巻冊次 ISBN:4320085248 ; PRICE:3900円+税
NBN JP99095811
登録日 2009.09.18
更新日 2009.09.18

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