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<図書>
Atom-probe field ion microscopy and its applications

責任表示 Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
シリーズ Advances in electronics and electron physics ; Supplement 20
データ種別 図書
出版者 Boston : Academic Press
出版年 c1989
本文言語 英語
大きさ vii, 299 p : ill. ; 24 cm

所蔵情報


理系図 自動書庫 068252189005057 427/Sak 1989

書誌詳細

一般注記 Bibliography: p. 275-292
Includes index
著者標目 酒井, 明 <サカイ, アキラ>
Pickering, H. W.
桜井, 敏雄(1927-) <サクライ, トシオ>
分 類 NDC7:549
書誌ID 1001129442
ISBN 0120145820
NCID BA06995219
巻冊次 ISBN:0120145820
登録日 2009.09.17
更新日 2009.09.17

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