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<図書>
IDDQ testing of VLSI circuits

責任表示 edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
シリーズ Frontiers in electronic testing
データ種別 図書
出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年 c1993
本文言語 英語
大きさ 120 p. : ill. ; 27 cm

所蔵情報


理系図2F 開架 026211996001985 549.7/G 92 1993

書誌詳細

一般注記 "A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."
"Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."
DDQ is subscript in IDDQ in title; testing method also known as quiescent current testing
Includes bibliographical references and index
著者標目 Gulati, Ravi K.
Hawkins, Charles F.
件 名 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing  全ての件名で検索
LCSH:Metal oxide semiconductors, Complementary -- Testing  全ての件名で検索
分 類 LCC:TK7874
DC20:621.39/5
書誌ID 1001059488
ISBN 0792393155
NCID BA19587703
巻冊次 ISBN:0792393155
登録日 2009.09.17
更新日 2009.09.17

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