このページのリンク

利用統計

  • 貸出数:0回
    (1年以内の貸出数:0回)

<図書>
Defects and properties of semiconductors : defect engineering

責任表示 edited by J. Chikawa, K. Sumino, and K. Wada
シリーズ Advances in solid state technology
データ種別 図書
出版者 Tokyo : KTK Scientific
出版者 Dordrecht ; Boston : D. Reidel
出版者 Norwell, MA, U.S.A. : Distributed in the U.S.A. and Canada by Kluwer Academic
出版年 c1987
本文言語 英語
大きさ vi, 261 p. : ill. ; 24 cm

所蔵情報


芸工2階 072032187000154 549.8/C44 1987

書誌詳細

一般注記 Includes bibliographies and index
"Papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" which was held in Tokyo on May 17-18, 1984 under the sponsorship of the Society of Non-Traditional Technology"--Pref
著者標目 Chikawa, J. (Junichi), 1930-
Sumino, K. (Kōji), 1931-
Wada, K. (Kazumi), 1950-
Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" (1984 : Tokyo, Japan)
Society of Non-Traditional Technology (Japan)
件 名 LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:QC611.6.D4
DC19:621.3815/2
書誌ID 1000911471
ISBN 9027723524
NCID BA0364350X
巻冊次 ISBN:9027723524
登録日 2009.09.16
更新日 2009.09.16

類似資料