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<図書>
Defect recognition in semiconductors before and after processing : proceedings of the fourth International Conference, Wilmslow, UK, 18-22 March, 1991

責任表示 edited by M.R. Brozel, D.J. Stirlnd
データ種別 図書
出版者 New York : Adam Hilger
出版年 1992
本文言語 英語
大きさ 310 p. : ill. (some col.) ; 31 cm

所蔵情報


[伊]超顕微解析 068252192002512 123 1992

書誌詳細

一般注記 Includes bibliographical references
著者標目 *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (4th : 1991 : Wilmslow, England)
Brozel, M. R. (Michael R.)
Stirland, D. J. (Derek J.)
件 名 LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Photoluminescence -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Gallium arsenide semiconductors -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:TK7871.85
DC20:621.3815/2/0287
書誌ID 1000001933
NCID BA18215463
登録日 1993.03.10
更新日 1996.03.07

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