パワーサイクル試験装置を用いた強制劣化モジュールの作製 - Collections

＜technical report＞
パワーサイクル試験装置を用いた強制劣化モジュールの作製

Creator	Author PID 80423557 Creator Name 中野, 智 Nakano, Satoshi ナカノ, サトシ Affiliation Affiliation Name 九州大学応用力学研究所 Research Institute for Applied Mechanics, Kyushu University
Language	Japanese
Publisher	九州大学応用力学研究所
Publisher	Research Institute for Applied Mechanics, Kyushu University
Date	2023-07
Source Title	Reports of Technical Service Division, RIAM
Vol	5
First Page	1
Last Page	6
Publication Type	Version of Record
Access Rights	open access
JaLC DOI	https://doi.org/10.15017/6794441
Abstract	省エネ、省電力、脱炭素の動きが世界的に今後も進んでいく中、新世代パワー半導体として高度な自己制御機能（自己最適化、故障予知など）を持つパワー半導体の開発が必要となっている。パワーサイクル故障を検出するセンシング技術の開発にあたり、新規導入したパワーサイクル試験装置を用いて強制的に劣化させたモジュールを作製する実験を行った。本稿ではこの実験過程について報告する。

File	FileType	Size	Views	Description
05_p001	pdf	1.94 MB	266