<technical report>
電解研磨法による透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製

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Table of Contents 1. 背景
2. 透過型電子顕微鏡観察用の猷料作製方法
3. 電解研磨法が金属系試料の薄膜化に多用される理由
4. 電解研磨装置(Tenupol-5)の特徴と読料の研磨方法
6. 電解研磨法をより効果的にする方法
7. 電解研磨法で試料を作製する場合の注意点
8. 今後の課題とまとめ

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Created Date 2018.11.20
Modified Date 2018.11.26

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