大気中分子－ZnO ナノワイヤ/Pt界面間相互作用の解明に基づくデバイス特性の高信頼化 - 九大コレクション

＜修士論文＞
大気中分子－ZnO ナノワイヤ/Pt界面間相互作用の解明に基づくデバイス特性の高信頼化

作成者	作成者姓名中村, 健太郎 Nakamura, Kentaro ナカムラ, ケンタロウ所属機関所属機関名九州大学大学院総合理工学府物質理工学専攻 Molecular and Material Sciences, Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University
本文言語	英語
学位授与年度	2018
学位授与大学	九州大学
学位授与大学	Kyushu University
学位	修士
学位種別	修士
アクセス権	metadata only access

レコードID	2559008
権利関係	著者の意向により本文ファイル非公開
権利関係	Public access to the fulltext file is restricted by author reason
キーワード	物質理工学専攻
	Molecular and Material Sciences
	総合理工学府（修士）
授与日(学位/助成/特許)	2019-03-20
部局	総理工
注記	修士（工学）
登録日	2020.03.16
更新日	2020.03.26