<テクニカルレポート>
異なる基板を用いた場合におけるGaN単結晶の転位密度・残留応力の数値解析

作成者
本文言語
出版者
発行日
雑誌名
開始ページ
終了ページ
出版タイプ
アクセス権

詳細

NCID
レコードID
権利関係
主題
登録日 2018.04.25
更新日 2018.05.21

この資料を見た人はこんな資料も見ています