<technical report>
パワーサイクル試験装置を用いた強制劣化モジュールの作製
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Abstract | 省エネ、省電力、脱炭素の動きが世界的に今後も進んでいく中、新世代パワー半導体として高度な自己制御機能(自己最適化、故障予知など)を持つパワー半導体の開発が必要となっている。パワーサイクル故障を検出するセンシング技術の開発にあたり、新規導入したパワーサイクル試験装置を用いて強制的に劣化させたモジュールを作製する実験を行った。本稿ではこの実験過程について報告する。 |
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05_p001 | 1.94 MB | 328 |
Details
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Created Date | 2023.07.27 |
Modified Date | 2023.07.28 |