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＜紀要論文＞
照射されたステンレス鋼の陽電子消滅寿命計測
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| 概要 | 四種類のステンレス鋼 (316, JPCA, HT-9, JFMS) について主として低温電子線照射後, 室温より上で等時焼鈍を行い陽電子消滅寿命計測により回復過程を追求した. 寿命スペクトルは通常の3成分解析が行なわれ, 第2成分が照射で 導入された原子空孔の挙動を示していると考えられる. オーステナイト系の316とJPCAでは250°C付近を中心に第2成分の減少消滅が見られ, フェライト系のH...T-9, JFMSでは150°C付近で同様の傾向が見られたがこれは原子空孔がシンクヘ移動消滅したものと考えられる. 電子線のエネルギーが28MeVの時も2.5MeVの時もあまり差はなく, 又55MeVのC^<5+>イオンの照射後もJFMSの場合には同様の結果を示した. これらの結果はオーステナイト系とフェライト系ステンレス鋼のボイドスエーリングの差異を考える上で重要な方向付けを与える.続きを見る |
| 目次 | 1. はじめに 2. 試料および実験方法 3. 測定結果と解釈 謝辞 参考文献 |
詳細
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| 登録日 | 2022.01.18 |
| 更新日 | 2023.03.04 |