<テクニカルレポート>
電解研磨法による透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製
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目次 | 1. 背景 2. 透過型電子顕微鏡観察用の猷料作製方法 3. 電解研磨法が金属系試料の薄膜化に多用される理由 4. 電解研磨装置(Tenupol-5)の特徴と読料の研磨方法 6. 電解研磨法をより効果的にする方法 7. 電解研磨法で試料を作製する場合の注意点 8. 今後の課題とまとめ |
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登録日 | 2018.11.20 |
更新日 | 2018.11.26 |