<紀要論文>
照射された金属・合金の陽電子消滅寿命計測
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概要 | 中性子あるいは高エネルギー重イオンで照射された純鉄, 鉄クロム合金等に対して陽電子消滅寿命計測を行い, 導入された欠陥, およびその集合体の性質を等時焼鈍過程を通して明らかにした. 純鉄中には室温照射後マイクロボイド成分が陽電子消滅寿命スペクトルの解析より見い出され, 原子空孔の移動温度が室温以下であることとよく対応する. 格子間原子集合体の成分の回復も見られいくつかのステージに分かれて回復する.... マイクロボイドは300°C~350°Cで回復することが多い. クロムを添加 (10%) した合金では原子空孔は200°C付近で移動消滅し, さらに炭素を添加 (0.07%) した二相合金(Fe-10%Cr-0.07%C) および実用鋼JFMSではそのステージは150°C付近にある. これらの合金の格子間原子集合体の挙動は複雑である. それは照射のカスケードの有無, 照射温度等によって格子間原子の集合体の形態が様々に異なるからである. その回復温度も300°C付近から500°C付近までの間に分布している.続きを見る |
目次 | 1. はじめに 2. 実験方法 3. 実験結果および考察 参考文献 |
詳細
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登録日 | 2022.01.18 |
更新日 | 2023.03.04 |