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<図書>
In-situ electron microscopy at high resolution

責任表示 editor, Florian Banhart
データ種別 図書
出版情報 Singapore : World Scientific , c2008
本文言語 英語
大きさ vi, 311 p. : ill. (some col.) ; 24 cm
概要 Editor Banhart (physical chemistry, U. de Strasbourg, France) has collected these research articles on in-situ electron microscopy to reflect the increased attention on sophisticated instruments that ...an measure on the micro, nano and atomic scales. Written for graduate students and practitioners in the field of chemistry and physics, these papers are the result of scientific research all over the world, covering such in-situ topics as electron irradiation of nanomaterials, observation of atomic defects in carbon nanostructures, transmission electron microscopy and high-resolution observations of chemical reactions between solids, liquids and gases. Studies on ion and electron beam effects on nanomaterials are also examined. Annotation ©2008 Book News, Inc., Portland, OR (booknews.com) 続きを見る

所蔵情報



理系図2F 開架 549.97/B 18 2008
130012022517922

書誌詳細

一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Banhart, Florian
件 名 LCSH:Electron microscopy -- Technique  全ての件名で検索
LCSH:High resolution electron microscopy
分 類 DC22:502.825
LCC:QH212.E4
書誌ID 1001755266
ISBN 9789812797339
NCID BB01403171
巻冊次 ISBN:9789812797339 ; XISBN:9812797335
登録日 2022.11.11
更新日 2022.11.11

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