<図書>
4D electron microscopy : imaging in space and time
責任表示 | Ahmed H. Zewail, John M. Thomas |
---|---|
データ種別 | 図書 |
出版情報 | Hackensack, N.J. : Imperial College Press , c2010 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xii, 341p. : ill. ; 25cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
: hbk | 理系図2F 開架 | 460.75/Z 3 | 2010 |
|
130012022518393 |
|
書誌詳細
別書名 | 異なりアクセスタイトル:Four-dimensional electron microscopy 異なりアクセスタイトル:Four dimensional electron microscopy |
---|---|
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
著者標目 | *Zewail, Ahmed H. Thomas, J. M. (John Meurig) |
件 名 | LCSH:Electron microscopy LCSH:Hyperspace LCSH:Space and time LCSH:Three-dimensional imaging |
分 類 | LCC:QH212.E4 DC22:570.28/25 |
書誌ID | 1001755023 |
ISBN | 9781848163904 |
NCID | BB0113288X |
巻冊次 | : hbk ; ISBN:9781848163904 ; XISBN:1848163908 : pbk ; ISBN:9781848164000 ; XISBN:1848164009 |
登録日 | 2022.11.10 |
更新日 | 2022.11.10 |