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＜図書＞
Practical analytical electron microscopy in materials science
| 責任表示 | David B. Williams |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | [Weinheim, Basel] : Verlag Chemie International Mahwah, N.J. : Electron Optics Pub. Co. , c1984 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | vii, 153 p. : ill. ; 29 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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: pbk | 理系図 自動書庫 | 1984 |
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130012019800217 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Williams, David B. (David Bernard), 1949- |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC19:620.1/1/0287 |
| 書誌ID | 1001675957 |
| ISBN | 3527262245 |
| NCID | BA03782481 |
| 巻冊次 | : Germany ; ISBN:3527262245 : us ; ISBN:0895733072 : pbk ; ISBN:0961293403 |
| 登録日 | 2019.05.21 |
| 更新日 | 2019.05.21 |