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＜図書＞
Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry
| 責任表示 | C. Barry Carter, David B. Williams (eds.) ; [foreword by Sir John Meurig Thomas] |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Berlin : Springer , c2016 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxxiii, 518 p. : ill. (some col.), ports. ; 29 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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: [hardback] | 筑紫図 1D 450-599 | 549.97/C 23 | 2016 |
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060212016000941 |
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書誌詳細
| 一般注記 | "This text is a companion volume to Transmission electron microscopy : a textbook for materials sciences by Williams and Carter."--P. [4] of cover Includes bibliographical references and index |
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| 著者標目 | Carter, C. Barry *Williams, David B. (David Bernard), 1949- Thomas, J. M. (John Meurig) |
| 書誌ID | 1001619720 |
| ISBN | 9783319266497 |
| NCID | BB22301599 |
| 巻冊次 | : [hardback] ; ISBN:9783319266497 |
| 登録日 | 2017.01.23 |
| 更新日 | 2017.01.23 |