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<図書>
ナノ材料解析の実際
ナノ ザイリョウ カイセキ ノ ジッサイ

責任表示 米澤徹, 朝倉清高, 幾原雄一編著
データ種別 図書
出版情報 東京 : 講談社 , 2016.6
本文言語 日本語
大きさ xii, 338p : 挿図 ; 21cm
目次 第1部 X線・中性子線(X線吸収微細構造(XAFS)
顕微XRF・顕微XAFS ほか)
第2部 電子線・プローブ(走査電子顕微鏡(SEM)
集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡(FIB‐SEM) ほか)
第3部 そのほかの分析手法(共焦点レーザースキャン顕微鏡(LSCM)
動的光散乱法による粒子径測定 ほか)
第4部 トピックス(ナノ粒子触媒評価
合金ナノ粒子評価 ほか)

所蔵情報



理系図2F 開架 501.4/Y 84 2016
031112016011426


筑紫図 1D 450-599 501.4/Y 84 2016
060112016001712


筑紫図 1D 450-599 501.4/Y 84 2016
160012021003127

書誌詳細

別書名 標題紙タイトル:Practical nanomaterial analysis
一般注記 編著者「朝倉清高」の「高」は「梯子高 (はしごだか) 」の置き換え
参考文献: 各章末
著者標目 米澤, 徹(1965-) <ヨネザワ, テツ>
朝倉, 清高 <アサクラ, キヨタカ>
幾原, 雄一 <イクハラ, ユウイチ>
件 名 BSH:ナノマテリアル
分 類 NDC8:501.4
NDC9:501.4
書誌ID 1001605659
ISBN 9784061543928
NCID BB21496958
巻冊次 ISBN:9784061543928 ; PRICE:4200円+税
登録日 2016.08.19
更新日 2021.10.14

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