Power-constrained testing of VLSI circuits

＜図書＞
Power-constrained testing of VLSI circuits

責任表示	by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi
シリーズ	Frontiers in electronic testing ; 22
データ種別	図書
出版情報	Boston ; London : Kluwer Academic , c2003
本文言語	英語
大きさ	xi, 178 p. : ill. ; 25 cm

状態	巻次	所蔵場所	請求記号	刷年	文庫名称	資料番号	コメント	予約・取寄	複写申込	自動書庫
		理系図2F 開架	549.7/N 71	2003		031212015502405		予約・取寄			予約・取寄

一般注記	Includes bibliographical references(p. 163- 173) and index
著者標目	*Nicolici, Nicola Al-Hashimi, Bashir
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration 全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Thermal properties 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874.75 .N53 DC21:621.3950287
書誌ID	1001591501
ISBN	140207235X
NCID	BA61930451
巻冊次	ISBN:140207235X
NBN	BA323559
登録日	2016.03.10
更新日	2016.03.10