Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies

＜図書＞
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies

責任表示	Alvin W. Strong ... [et al.]
シリーズ	IEEE Press series on microelectronic systems / Stuart K. Tewksbury, series editor
データ種別	図書
出版情報	Piscataway, N.J. : IEEE Press Hoboken, N.J. : John Wiley , c2009
本文言語	英語
大きさ	xv, 624 p. : ill. ; 25 cm
概要	A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanisms

状態	巻次	所蔵場所	請求記号	刷年	文庫名称	資料番号	コメント	予約・取寄	複写申込	自動書庫
		理系図2F 開架	549.7/St 8	2009		031212015502153		予約・取寄			予約・取寄
		筑紫図 1C 450-599	549.7/St 8	2009		060212011001834		予約・取寄			予約・取寄

一般注記	"IEEE Solid-State Circuits Society, sponsor." Includes bibliographical references and index
著者標目	Strong, Alvin W.
件　名	LCSH:Metal oxide semiconductors, Complementary -- Reliability 全ての件名で検索
分　類	DC22:621.39732
書誌ID	1001463614
ISBN	9780471731726
NCID	BA91540128
巻冊次	ISBN:9780471731726
NBN	015175021
登録日	2011.12.27
更新日	2017.10.03