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＜図書＞
Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis
| 責任表示 | edited by Stephen J. Pennycook, Peter D. Nellist |
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| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | New York : Springer , c2011 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 762 p. : ill. (some col.) ; 27 cm |
| 概要 | This book provides a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the instrument, image formation and scattering theory, and definition ...nd measurement of resolution for both imaging and analysis. 続きを見る |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 549.97/P 38 | 2011 |
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130012022518265 |
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筑紫図 1D 450-599 | 549.97/P 38 | 2011 |
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060212011001201 |
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筑紫図 1D 450-599 | 549.97/P 38/A | 2011 |
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060212011001885 |
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[伊]超顕微解析 | 549.97/P 38 | 2011 |
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037212011000224 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Pennycook, Stephen J. Nellist, Peter D. |
| 分 類 | DC22:502.825 |
| 書誌ID | 1001453427 |
| ISBN | 9781441971999 |
| NCID | BB05745643 |
| 巻冊次 | ISBN:9781441971999 |
| 登録日 | 2011.08.17 |
| 更新日 | 2011.08.17 |