<図書>
Transmission electron microscopy : a textbook for materials science
責任表示 | David B. Williams, C. Barry Carter |
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データ種別 | 図書 |
版 | 2nd ed |
出版情報 | New York : Springer , c2009 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | lxii, 760, 15 p. : ill. (some col.) ; 29 cm |
概要 | This market-leading text has been fully updated and expanded in the first new edition for 12 years. Now with four-color illustrations and hundreds of new self-assessment questions, the text is a one-...top shop on this materials characterization technique. 続きを見る |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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: hbk | 理系図2F 開架 | 549.97/W 74 | 2009 |
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010212013009845 |
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: hbk | 理系図2F 開架 | 549.97/W 74 | 2009 |
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031212009000578 |
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: hbk | [伊]超顕微解析 | 549.97/W 74 | 2009 |
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027212009000546 |
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書誌詳細
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | *Williams, David B. (David Bernard), 1949- Carter, C. Barry |
件 名 | LCSH:Transmission electron microscopy |
分 類 | DC22:620.11299 |
書誌ID | 1001395786 |
ISBN | 9780387765006 |
NCID | BA91372511 |
巻冊次 | : hbk ; ISBN:9780387765006 |
NBN | GBA8A7197 |
登録日 | 2009.11.02 |
更新日 | 2014.03.26 |