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<図書>
新TOEICテスト一発で正解がわかる
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル

責任表示 キム・デギュン著
データ種別 図書
出版情報 [東京] : [旺文社] , [2006.1]-
本文言語 日本語,英語
大きさ 冊 ; 21cm
概要 PART別に「問題のパターン」を挙げ、正解を一発で導き出すための攻略法を詳しく解説しています。スコアアップに欠かせない語彙力を養うために、各PARTで頻出する単熟語約1,500語が収録されています。新TOEICの問題形式と内容に完璧にあった模擬テスト200問が巻末に収録されています。付属の音声CDには、アメリカ・イギリス・カナダ・オーストラリアのネイティブのナレーションが吹き込まれています。

所蔵情報


基礎編 中央図 自動書庫 830.79/Ki 31 2006
003112007032375

基礎編 言文 英語 830.79/Ki 38 2006
058112006067298

書誌詳細

別書名 異なりアクセスタイトル:新TOEICテスト一発で正解がわかる
一般注記 出版事項はジャケットによる
[正編]: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)
基礎編: 付属資料: (録音ディスク2枚 : ディジタル ; 12cm)
基礎編: 付: (別冊63p) : 解答・解説
著者標目 キム, デギュン <キム, デギュン>
件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
書誌ID 1001308928
ISBN 4010934905
NCID BA75816192
巻冊次 [正編] ; ISBN:4010934905
基礎編 ; ISBN:9784010940815 ; PRICE:2000円+税 ; XISBN:4010940816
NBN JP20974531
登録日 2009.09.18
更新日 2009.09.18

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