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＜図書＞
パワーMOSFETの耐放射線性評価試験
パワー MOSFET ノ タイホウシャセンセイ ヒョウカ シケン
| 責任表示 | 宇宙開発事業団編 |
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| シリーズ | 宇宙開発事業団契約報告 ; NASDA-CNT 990014 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | 東京 : 宇宙開発事業団 , 1999.6 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | iv, 38, iv, 95p ; 30cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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その2・その3 | 理系図 自動書庫 | 1999 |
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027132004044734 |
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その2・その3 | 理系図 自動書庫 | 1999 |
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031112016601556 |
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書誌詳細
| 別書名 | 標題紙タイトル:The evaluation test for single event phenomina of power MOSFETs caused by nuclear reactions with incident heavy ions |
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| 一般注記 | 作成元: 高信頼性部品 |
| 著者標目 | 宇宙開発事業団 <ウチュウ カイハツ ジギョウダン> |
| 書誌ID | 1001280177 |
| NCID | BA68687657 |
| 巻冊次 | その2・その3 |
| 登録日 | 2009.09.18 |
| 更新日 | 2009.09.18 |