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＜図書＞
Radiation effects in advanced semiconductor materials and devices
| 責任表示 | C. Claeys, E. Simoen |
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| シリーズ | Springer series in materials science ; v. 57 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Berlin : Springer , c2002 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxii, 401 p. : ill. ; 24 cm |
| 概要 | This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on fu...ure developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants. 続きを見る |
| 電子版へのリンク | https://hdl.handle.net/2324/6916057 |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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筑紫図 1C 450-599 | 549.8/C 74 | 2002 |
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067212009000052 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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| 著者標目 | Claeys, Cor L. Simoen, Eddy R. |
| 分 類 | LCC:QC611 DC20:621 |
| 書誌ID | 1001192864 |
| ISBN | 3540433937 |
| NCID | BA58661089 |
| 巻冊次 | ISBN:3540433937 |
| 登録日 | 2009.09.18 |
| 更新日 | 2009.09.18 |