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<図書>
X-ray spectrometry in electron beam instruments

責任表示 edited by David B. Williams, Joseph I. Goldstein, and Dale E. Newbury
データ種別 図書
出版情報 New York : Plenum Press , c1995
本文言語 英語
大きさ xviii, 372 p. : ill. ; 26 cm
概要 A collection of papers derived from a special symposium held at the Microbeam Analysis Society Meeting of 1993 in Los Angeles, providing an overall view of current research in the field of x-ray spect...ometry as it relates to the practice of electron probe x-ray microanalysis. Among the topics are the development of energy dispersive electron probe analysis; problems and trends in x-ray detector design for microanalysis; germanium x-ray detectors; modeling the energy dispersive x-ray detector; improving EDS performance with digital pulse processing; a review of wavelength dispersive spectrometry; and an evaluation of quantitative electron probe methods. Annotation copyright by Book News, Inc., Portland, OR続きを見る

所蔵情報



理系図 自動書庫 433.5/W 1995
068252195010967


[伊]超顕微解析 173 1995
025211996001464

書誌詳細

一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Williams, David B. (David Bernard), 1949-
Goldstein, Joseph, 1939-
Newbury, Dale E.
件 名 LCSH:Electron beams -- Instruments  全ての件名で検索
LCSH:X-ray spectroscopy
LCSH:Electron probe microanalysis
分 類 LCC:QC793.5.E622
DC20:543/.08586
書誌ID 1001164411
ISBN 0306448580
NCID BA27444133
巻冊次 ISBN:0306448580
登録日 2009.09.17
更新日 2009.09.17

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