Mendeley出力
＜図書＞
Testing semiconductor memories : theory and practice
| 責任表示 | A.J. van de Goor |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Chichester ; New York : J. Wiley & Sons , 1991 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiii, 512 p. : ill. ; 24 cm |
| 概要 | Goor (EE, Delft U.) presents memory test models on the chip, array, and board level. For each a class of fault models is introduced together with opposite tests. He particularly stresses the appropria...eness of fault models to their class. Annotation copyrighted by Book News, Inc., Portland, OR続きを見る |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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筑紫図 1D 450-599 | 549.8/G 67 | 1991 |
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067232006005025 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Goor, A. J. van de. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductor storage devices -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7895.M4 DC20:621.381/52 |
| 書誌ID | 1001142397 |
| ISBN | 0471925861 |
| NCID | BA13559501 |
| 巻冊次 | ISBN:0471925861 ; PRICE:$80.40 (U.S.) disk ; ISBN:047192587X ; PRICE:$30.00 (U.S.) |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |