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＜図書＞
Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A.
| 責任表示 | editors, Subhash Mahajan, James W. Corbett |
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| シリーズ | Materials Research Society symposia proceedings ; v. 14 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | New York : North-Holland , c1983 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xv, 582 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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芸工図 2F 書架 | 428.8/Ma29 | 1983 |
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072032184001355 |
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[伊]超顕微解析 | 54 | 1983 |
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068252184007995 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | Mahajan, Subhash Corbett, James W. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611.6.D4 DC19:537.6/22 |
| 書誌ID | 1001134764 |
| ISBN | 0444008128 |
| NCID | BA00973122 |
| 巻冊次 | ISBN:0444008128 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |