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＜図書＞
Multiple-beam interference microscopy of metals
| 責任表示 | by S. Tolansky |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | London ; New York : Academic Press , 1970 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | ix, 147 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 563.6/To 47 | 1970 |
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031212007500553 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Tolansky, S. (Samuel), 1907- |
| 件 名 | LCSH:Interference microscope LCSH:Metallography |
| 分 類 | LCC:TN690 DC:669.9/5/0282 |
| 書誌ID | 1001130489 |
| ISBN | 0126926506 |
| NCID | BA18220656 |
| 巻冊次 | ISBN:0126926506 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |