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＜図書＞
Logic testing and design for testability
| 責任表示 | Hideo Fujiwara |
|---|---|
| シリーズ | MIT Press series in computer systems |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | x, 284 p. : ill. ; 24 cm |
| 概要 | Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing. |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 549.3/F 68 | 1985 |
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031212006509285 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Bibliography: p. [272]-278 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *藤原, 秀雄(1946-) <フジワラ, ヒデオ> |
| 件 名 | LCSH:Logic circuits -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7868.L6 DC19:621.3815/37 |
| 書誌ID | 1001125685 |
| ISBN | 0262060965 |
| NCID | BA0446462X |
| 巻冊次 | ISBN:0262060965 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |