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＜図書＞
最新固体表面/微小領域の解析・評価技術
サイシン コタイ ヒョウメン ビショウ リョウイキ ノ カイセキ ヒョウカ ギジュツ
| 責任表示 | 氏平祐輔編 |
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| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | 東京 : リアライズ社 , 1991.3 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 410p ; 27cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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筑紫図 1D 450-599 | 549/U 57 | 1991 |
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071132000104263 |
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書誌詳細
| 著者標目 | 氏平, 祐輔(1936-) 編 <ウジヒラ, ユウスケ> |
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| 書誌ID | 1001071605 |
| ISBN | 4947655429 |
| NCID | BN06637673 |
| 巻冊次 | ISBN:4947655429 ; PRICE:54,590円 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |