<図書>
表面と薄膜分析技術の基礎
ヒョウメン ト ハクマク ブンセキ ギジュツ ノ キソ
責任表示 | L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳 |
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データ種別 | 図書 |
出版情報 | 東京 : 海文堂 , 1989.6 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | xii, 353p ; 22cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図1F 開架 | 428.4/F 18 | 1989 |
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068251189011223 |
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シ情 電気シス[AC5] | 431/Fel | 1989 |
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068251189006630 |
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書誌詳細
別書名 | 原タイトル:Fundamentals of surface and thin film analysis |
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一般注記 | 文献:各章末 |
著者標目 | Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- 栗山, 一男 <クリヤマ, カズオ> 山本, 康博 <ヤマモト, ヤスヒロ> |
件 名 | BSH:表面(工学) BSH:薄膜 BSH:光学分析 |
分 類 | NDC8:428.4 NDLC:MC141 |
書誌ID | 1001062826 |
ISBN | 4303712000 |
NCID | BN03575514 |
巻冊次 | ISBN:4303712000 ; PRICE:5100円 |
登録日 | 2009.09.17 |
更新日 | 2009.09.17 |