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＜図書＞
1994 ACM SIGMETRICS Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems : proceedings, May 16-20, 1994, Vanderbilt University, Nashville, Tennessee, USA
| シリーズ | Performance evaluation review ; special issue, v. 22, no. 1 |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | New York, N.Y. : Association for Computing Machinery , 1994 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 294 p. ; 28 cm |
| 電子版へのリンク | https://hdl.handle.net/2324/7107343 |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図 自動書庫 | 007.63/C 86 | 1994 |
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031212006506760 |
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書誌詳細
| 別書名 | 背表紙タイトル:Proceedings of 1994 ACM SIGMETRICS May 16-20, 1994 |
|---|---|
| 一般注記 | ACM Order Number: 488940 |
| 著者標目 | Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems (1994 : Nashville, Tennessee) ACM-Sigmetrics |
| 書誌ID | 1001060548 |
| ISBN | 089791659X |
| NCID | BA22739060 |
| 巻冊次 | ISBN:089791659X |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2017.02.18 |