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＜図書＞
High speed testing
| データ種別 | 図書 |
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| 出版情報 | New York : Interscience Pub. , 1960-c1965 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | v. ; 26 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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vol. 1 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1960 |
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027232002036942 |
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vol. 1 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1960 |
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027232002036954 |
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vol. 2 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1961 |
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027232002036966 |
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vol. 2 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1961 |
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027232002036978 |
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vol. 3 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1962 |
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027232002036981 |
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vol. 4 | 理系図 自動書庫 | 205/Die | 1964 |
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027232001015251 |
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vol. 4 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1964 |
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027232002036993 |
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vol. 5 | 理系図 自動書庫 | 531/B/DIE | 1965 |
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027232002037005 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Proceedings of Annual Symposium on HighSpeed Testing, chaired by Albert G. H. Dietz & Frederick R. Eirich, sponsored by Plas-Tech Equipment Corporation, Natick, Massachusetts |
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| 著者標目 | Dietz, Albert G. H. Eirich, Frederick R. |
| 書誌ID | 1001060126 |
| NCID | BA08266741 |
| 巻冊次 | vol. 1 vol. 2 vol. 3 vol. 4 vol. 5 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |