Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices

＜図書＞
Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices

責任表示	edited by Jay N. Zemel
シリーズ	NATO advanced study institutes series ; Series B . Physics ; v. 46
データ種別	図書
出版情報	New York : Plenum Press , c1979
本文言語	英語
大きさ	xi, 782 p. : ill. ; 26 cm
電子版へのリンク	https://hdl.handle.net/2324/6953458

状態	巻次	所蔵場所	請求記号	刷年	文庫名称	資料番号	コメント	予約・取寄	複写申込	自動書庫
		理系図2F 開架	549.8/N 57	1979		068222181001234		予約・取寄			予約・取寄
		芸工図 2F 工学図書室	549.8/Z2	1978		072032179010764		予約・取寄			予約・取寄

一般注記	Lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluationof Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy,September 19-29, 1978 Includes bibliographical references and index "Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division."
著者標目	*NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices (1978 : Villa Tuscolano, Italy) Zemel, Jay N.
件　名	LCSH:Semiconductors -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7871.85 DC:621.3815/2/028
書誌ID	1001054796
ISBN	0306402939
NCID	BA13158566
巻冊次	ISBN:0306402939
登録日	2009.09.17
更新日	2009.11.02