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＜図書＞
X線マイクロアナライザ
Xセン マイクロ アナライザ
| 責任表示 | 内山郁, 渡辺融, 紀本静雄著 |
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| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | 東京 : 日刊工業新聞社 , 1972.1 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 2, 6, 243, 6p ; 22cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図2F 開架 | 501.22/U 25 | 1975 |
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027132003135038 |
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理系図 自動書庫 | A/Ut | 1975 |
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027132003027915 |
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筑紫図 1D 450-599 | 501.22/U 25 | 1973 |
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062131998001334 |
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書誌詳細
| 一般注記 | 付: 参考図書 |
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| 著者標目 | 内山, 郁(1928-) <ウチヤマ, イク> 紀本, 静雄 <キモト, シズオ> 渡辺, 融 <ワタナベ, アキラ> |
| 件 名 | NDLSH:エックス線分光分析 |
| 分 類 | NDC6:570.7 NDLC:M217 |
| 書誌ID | 1001045339 |
| NCID | BN01340509 |
| 巻冊次 | PRICE:2000円 |
| NBN | JP69006279 |
| NDLCN | 72003219 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |