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＜図書＞
Applications and microanalysis
| 責任表示 | John Keith Beddow |
|---|---|
| シリーズ | Uniscience series on fine particle science and technology ; . CRC series on fine particle science and technology . Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow ; 1 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Boca Raton, Fla. : CRC Press , c1984 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | v. : ill. (some col.) ; 27 cm |
| 目次 | v. 1. Applications and microanalysis v. 2. Morphological analysis. |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図 自動書庫 | 510/B/2-1 | 1984 |
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068252184010076 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographies and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | Beddow, John K. |
| 件 名 | LCSH:Particles LCSH:Bulk solids LCSH:Particle size determination |
| 分 類 | LCC:TA418.78 DC19:620/.43 |
| 書誌ID | 1001044564 |
| ISBN | 0849357845 |
| NCID | BA00628962 |
| 巻冊次 | ISBN:0849357845 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |