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＜図書＞
Field ion microscopy : principles and applications
| 責任表示 | by Erwin W. Müller and Tien Tzou Tsong |
|---|---|
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | New York : American Elsevier , 1969 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | ix, 314 p., [1] leaf of plate : ill. (part col.) ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図 自動書庫 | 25/M/119 | 1969 |
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027232002131397 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographies and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Müller, Erwin W. Tsong, Tien Tzou, 1934- joint author |
| 件 名 | LCSH:Field ion microscope |
| 分 類 | LCC:QH212.F5 DC:578/.1 |
| 書誌ID | 1001042370 |
| ISBN | 0444000623 |
| NCID | BA09973074 |
| 巻冊次 | ISBN:0444000623 |
| 登録日 | 2009.09.17 |
| 更新日 | 2009.09.17 |