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＜図書＞
Diffraction and imaging techniques in material science
| 責任表示 | editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt |
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| データ種別 | 図書 |
| 版 | 2d, rev. ed |
| 出版情報 | Amsterdam ; New York : North-Holland : sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland , 1978 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 2 v. : ill. ; 23 cm |
| 目次 | v. 1. Electron microscopy v. 2. Imaging and diffraction techniques |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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総理工 研究室 | 470.7/A 44/2(2) | 1978 |
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062231998005068 |
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総理工 研究室 | 470.7/A 44/1(2) | 1978 |
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062231998005071 |
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v. 1 | 理系図 自動書庫 | H/Ame | 1978 |
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026232003031193 |
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v. 1 | 理系図 自動書庫 | 535/C/AME | 1978 |
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027232002188831 |
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v. 1 | 総理工 研究室 | 420.7/A 44/1 | 1978 |
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062231998009168 |
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v. 2 | 理系図 自動書庫 | H/Ame | 1978 |
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026232003031204 |
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v. 2 | 理系図 自動書庫 | 535/C/AME | 1978 |
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027232002188680 |
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v. 2 | [伊]超顕微解析 | 75 | 1978 |
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068252185006866 |
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v. 2 | 総理工 研究室 | 420.7/A 44/2 | 1978 |
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062231998009171 |
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書誌詳細
| 内容注記 | v. 1. Electron microscopy v. 2. Imaging and diffraction techniques |
|---|---|
| 一般注記 | Comprises new contributions and revised and updated papers originally presented at the International Summer Course on Material Science, Antwerp, 1969, and published in 1970 under title: Modern diffraction and imaging techniques in material science Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Amelinckx, Severin Gevers, R. Landuyt, J. van International Summer Course on Material Science (1969 : Antwerp, Belgium) |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy -- Congresses
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LCSH:Electrons -- Diffraction -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Imaging systems -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC:620.1/127 |
| 書誌ID | 1000997091 |
| ISBN | 0444851305 |
| NCID | BA02904572 |
| 巻冊次 | set ; ISBN:0444851305 v. 1 ; ISBN:0444851283 v. 2 ; ISBN:0444851291 |
| 登録日 | 2009.09.16 |
| 更新日 | 2009.09.17 |