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＜図書＞
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995
| 責任表示 | edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida |
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| シリーズ | Materials science forum ; v. 196-201 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Zürich, Switzerland : Trans Tech Publications , c1995 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 4 v. (xliii, 2027 p.) : ill. ; 25 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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pt. 1 | 筑紫図 Biblio Cookies 2階_会議録 | 428.8/Su 19/1 | 1995 |
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071232000093308 |
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pt. 2 | 筑紫図 Biblio Cookies 2階_会議録 | 428.8/Su 19/2 | 1995 |
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071232000093311 |
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pt. 3 | 筑紫図 Biblio Cookies 2階_会議録 | 428.8/Su 19/3 | 1995 |
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071232000093323 |
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pt. 4 | 筑紫図 Biblio Cookies 2階_会議録 | 428.8/Su 19/4 | 1995 |
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071232000093335 |
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書誌詳細
| 別書名 | 表紙タイトル:Defects in semiconductors 18 |
|---|---|
| 著者標目 | *International Conference on Defects in Semiconductors (18th : 1995 : Sendai, Japan) Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi |
| 分 類 | NDC8:428.8 |
| 書誌ID | 1000931630 |
| ISBN | 0878497161 |
| NCID | BA27177886 |
| 巻冊次 | : set ; ISBN:0878497161 pt. 1 ; ISBN:0878497129 pt. 2 ; ISBN:0878497137 pt. 3 ; ISBN:0878497145 pt. 4 ; ISBN:0878497153 |
| 登録日 | 2009.09.16 |
| 更新日 | 2009.09.16 |