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＜図書＞
Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.
| 責任表示 | editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair |
|---|---|
| シリーズ | Materials Research Society symposia proceedings ; v. 82 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1987 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xv, 532 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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筑紫図 Biblio Cookies 2階_会議録 | 501.408/Ma 71 | 1987 |
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071232000093184 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Includes bibliographies |
|---|---|
| 著者標目 | Siegel, Richard W. Sinclair, Robert Weertman, Julia R. (Julia Randall) Materials Research Society Materials Research Society. Meeting (1986 : Boston, Mass.) Symposium on the Characterization of Defects in Materials (1986 : Boston, Mass.) |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Defects -- Congresses
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| 分 類 | LCC:TA418.5 DC19:620.1/12 |
| 書誌ID | 1000929031 |
| ISBN | 0931837472 |
| NCID | BA01314391 |
| 巻冊次 | ISBN:0931837472 |
| 登録日 | 2009.09.16 |
| 更新日 | 2009.09.16 |