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＜図書＞
X-ray analysis papers : a volume of twenty-four selected reprints from Philips Laboratories, Briarcliff Manor, New York, U.S.A.
| 責任表示 | edited by William Parrish |
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| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Eindhoven, Netherlands : Centrex Publishing , 1965 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 311p. : illus ; 28 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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理系図 自動書庫 | A/Pa | 1965 |
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027232003027501 |
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書誌詳細
| 一般注記 | First edition "Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography",1962 |
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| 著者標目 | Parrish, William |
| 書誌ID | 1000918268 |
| NCID | BA13224999 |
| 登録日 | 2009.09.16 |
| 更新日 | 2009.09.17 |