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＜図書＞
電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討
デンシ デバイスヨウ バルク タンケッショウチュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ
| 責任表示 | 研究代表者柿本浩一 |
|---|---|
| シリーズ | 科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書 ; 平成9年度-平成11年度 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | [福岡] : [九州大学] , 2000.3 |
| 本文言語 | 英語,日本語 |
| 大きさ | 1冊 ; 30cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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中央図 自動書庫 | 科研報告書/九州大学/09650813 | 2000 |
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003122000004405 |
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書誌詳細
| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813) |
|---|---|
| 著者標目 | 柿本, 浩一(1955-) <カキモト, コウイチ> |
| 書誌ID | 1000867363 |
| NCID | BA46682070 |
| 登録日 | 2009.09.15 |
| 更新日 | 2011.10.07 |