電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

＜図書＞
電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討
デンシデバイスヨウバルクタンケッショウチュウノケッカンケイセイカテイノケントウ

責任表示	研究代表者柿本浩一
シリーズ	科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書 ; 平成9年度-平成11年度
データ種別	図書
出版情報	[福岡] : [九州大学] , 2000.3
本文言語	英語,日本語
大きさ	1冊 ; 30cm

状態	巻次	所蔵場所	請求記号	刷年	文庫名称	資料番号	コメント	予約・取寄	複写申込	自動書庫
		中央図自動書庫	科研報告書/九州大学/09650813	2000		003122000004405		予約・取寄		出庫可能	予約・取寄		出庫可能

別書名	異なりアクセスタイトル:平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813)
著者標目	柿本, 浩一(1955-) <カキモト, コウイチ>
書誌ID	1000867363
NCID	BA46682070
登録日	2009.09.15
更新日	2011.10.07