<図書>
X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析
Xセン キュウシュウ ビサイ コウゾウ : XAFS ノ ソクテイ ト カイセキ
責任表示 | 宇田川康夫編 |
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シリーズ | 日本分光学会測定法シリーズ ; 26 |
データ種別 | 図書 |
出版情報 | 東京 : 学会出版センター , 1993.2 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | x, 222p ; 21cm |
所蔵情報
状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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中央図 4A | 433.5/N 71 | 1993 |
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058112001025891 |
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理系図1F 開架 | 433.57/U 26 | 1999 |
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003112001048702 |
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筑紫図 1C 400-449 | 425.2/N 78/26 | 1993 |
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067112000004768 |
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書誌詳細
別書名 | 背表紙タイトル:X線吸収微細構造 |
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一般注記 | 文献: p219-220 |
著者標目 | 宇田川, 康夫(1943-) 編 <ウダガワ, ヤスオ> |
件 名 | BSH:エックス線分光分析 NDLSH:エックス線分光分析 |
分 類 | NDC8:433.5 NDC7:433.58 NDLC:PA128 |
書誌ID | 1000764863 |
ISBN | 4762257087 |
NCID | BN08713353 |
巻冊次 | ISBN:4762257087 ; PRICE:4400円 |
NBN | JP93025776 |
登録日 | 2009.09.15 |
更新日 | 2009.09.17 |