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＜図書＞
Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis
| 責任表示 | Ludwig Reimer |
|---|---|
| シリーズ | Springer series in optical sciences ; v. 45 |
| データ種別 | 図書 |
| 出版情報 | Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1985 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xviii, 457 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報
| 状態 | 巻次 | 所蔵場所 | 請求記号 | 刷年 | 文庫名称 | 資料番号 | コメント | 予約・取寄 | 複写申込 | 自動書庫 |
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[伊]超顕微解析 | 80 | 1985 |
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068252185013430 |
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書誌詳細
| 一般注記 | Bibliography: p. [405]-446 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Reimer, Ludwig, 1928- |
| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscope |
| 分 類 | NDLC:ND448 LCC:QH212.S3 DC19:535/.3325 |
| 書誌ID | 1000020819 |
| ISBN | 0387135308 |
| NCID | BA00063343 |
| 巻冊次 | : N.Y. ; ISBN:0387135308 : Berlin ; ISBN:3540135308 |
| 登録日 | 2004.10.26 |
| 更新日 | 2004.10.26 |